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Experimental and theoretical analysis of transport properties of core-shell wire light emitting diodes probed by electron beam induced current microscopy.
Lavenus, P; Messanvi, A; Rigutti, L; De Luna Bugallo, A; Zhang, H; Bayle, F; Julien, F H; Eymery, J; Durand, C; Tchernycheva, M.
Afiliação
  • Lavenus P; Institut d'Electronique Fondamentale, UMR 8622 CNRS, Université Paris Sud XI, 91405 Orsay cedex, France.
Nanotechnology ; 25(25): 255201, 2014 Jun 27.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24897006

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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