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Si-nanowire-based multistage delayed Mach-Zehnder interferometer optical MUX/DeMUX fabricated by an ArF-immersion lithography process on a 300 mm SOI wafer.
Opt Lett ; 39(13): 3702-5, 2014 Jul 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24978715

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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