Study of band inversion in the PbxSn1-xTe class of topological crystalline insulators using x-ray absorption spectroscopy.

Mitrofanov, K V; Kolobov, A V; Fons, P; Krbal, M; Tominaga, J; Uruga, T.

Afiliação

Mitrofanov KV; Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki 305-8562, Japan.

J Phys Condens Matter ; 26(47): 475502, 2014 Nov 26.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25355606

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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