[Study on packaging-induced stress in 4 mm cavity length high-power single emitter semiconductor laser].
Guang Pu Xue Yu Guang Pu Fen Xi
; 34(6): 1441-5, 2014 Jun.
Article
em Zh
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| ID: mdl-25358141
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Idioma:
Zh
Ano de publicação:
2014
Tipo de documento:
Article