High performance tunnel field-effect transistor by gate and source engineering.

Huang, Ru; Huang, Qianqian; Chen, Shaowen; Wu, Chunlei; Wang, Jiaxin; An, Xia; Wang, Yangyuan.

Afiliação

Huang R; Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MOE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, People's Republic of China.

Nanotechnology ; 25(50): 505201, 2014 Dec 19.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25427134

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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