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Matched Backprojection Operator for Combined Scanning Transmission Electron Microscopy Tilt- and Focal Series.
Dahmen, Tim; Kohr, Holger; de Jonge, Niels; Slusallek, Philipp.
Afiliação
  • Dahmen T; 1German Research Center for Artificial Intelligence GmbH (DFKI),66123 Saarbrücken,Germany.
  • Kohr H; 2Department of Mathematics,KTH Royal Institute of Technology,Lindstedtsvägen 25,Stockholm,SE 100 44,Sweden.
  • de Jonge N; 3INM Leibniz Institute for New Materials,66123 Saarbrücken,Germany.
  • Slusallek P; 1German Research Center for Artificial Intelligence GmbH (DFKI),66123 Saarbrücken,Germany.
Microsc Microanal ; 21(3): 725-38, 2015 Jun.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26046398
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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Microscopia Eletrônica de Transmissão e Varredura / Imageamento Tridimensional Idioma: En Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article
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