Effects of length dispersity and film fabrication on the sheet resistance of copper nanowire transparent conductors.

Borchert, James W; Stewart, Ian E; Ye, Shengrong; Rathmell, Aaron R; Wiley, Benjamin J; Winey, Karen I.

Afiliação

Borchert JW; Department of Materials Science and Engineering, University of Pennsylvania, Philadelphia, Pennsylvania 19104, USA. winey@seas.upenn.edu.

Nanoscale ; 7(34): 14496-504, 2015 Sep 14.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26260532

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article

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