Thermal Resistance of Transferred-Silicon-Nanomembrane Interfaces.

Schroeder, D P; Aksamija, Z; Rath, A; Voyles, P M; Lagally, M G; Eriksson, M A

Schroeder, D P; Aksamija, Z; Rath, A; Voyles, P M; Lagally, M G; Eriksson, M A.

Afiliação

Schroeder DP; University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin 53706, USA.
Aksamija Z; University of Massachusetts-Amherst, Amherst, Massachusetts 01003, USA.
Rath A; University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin 53706, USA.
Voyles PM; University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin 53706, USA.
Lagally MG; University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin 53706, USA.
Eriksson MA; University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin 53706, USA.

Phys Rev Lett ; 115(25): 256101, 2015 Dec 18.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26722927

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article

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