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X-ray grating interferometer for in situ and at-wavelength wavefront metrology.
Kayser, Yves; David, Christian; Flechsig, Uwe; Krempasky, Juraj; Schlott, Volker; Abela, Rafael.
Afiliação
  • Kayser Y; Paul Scherrer Institut, 5232 Villigen PSI, Switzerland.
  • David C; Paul Scherrer Institut, 5232 Villigen PSI, Switzerland.
  • Flechsig U; Paul Scherrer Institut, 5232 Villigen PSI, Switzerland.
  • Krempasky J; Paul Scherrer Institut, 5232 Villigen PSI, Switzerland.
  • Schlott V; Paul Scherrer Institut, 5232 Villigen PSI, Switzerland.
  • Abela R; Paul Scherrer Institut, 5232 Villigen PSI, Switzerland.
J Synchrotron Radiat ; 24(Pt 1): 150-162, 2017 01 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28009554
Palavras-chave
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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article
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