Self-organization and FORC-based magnetic characterization of ultra-high aspect ratio epitaxial Co nanostrips produced by oblique deposition on an ordered step-bunched silicon surface. | Nanotechnology;28(9): 095708, 2017 Mar 03. | MEDLINE

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Self-organization and FORC-based magnetic characterization of ultra-high aspect ratio epitaxial Co nanostrips produced by oblique deposition on an ordered step-bunched silicon surface.

Ognev, A V; Ermakov, K S; Samardak, A Yu; Kozlov, A G; Sukovatitsina, E V; Davydenko, A V; Chebotkevich, L A; Stancu, A; Samardak, A S.

Afiliação

Ognev AV; Laboratory of Thin Film Technologies, School of Natural Sciences, Far Eastern Federal University, Vladivostok 690950, Russia.

Nanotechnology ; 28(9): 095708, 2017 Mar 03.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28045008

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article

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