Optical properties of Cu2ZnSnSe4 thin films and identification of secondary phases by spectroscopic ellipsometry.
Opt Express
; 25(5): 5327-5340, 2017 Mar 06.
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em En
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| ID: mdl-28380795
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Tipo de estudo:
Diagnostic_studies
Idioma:
En
Ano de publicação:
2017
Tipo de documento:
Article