Nanoscale imaging and spectroscopy of band gap and defects in polycrystalline photovoltaic devices.

Yoon, Yohan; Chae, Jungseok; Katzenmeyer, Aaron M; Yoon, Heayoung P; Schumacher, Joshua; An, Sangmin; Centrone, Andrea; Zhitenev, Nikolai.

Afiliação

Yoon Y; Center for Nanoscale Science and Technology, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA. yohan.yoon@nist.gov yyoon8539@gmail.com.

Nanoscale ; 9(23): 7771-7780, 2017 Jun 14.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28426088

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article

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