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Electrostatic melting in a single-molecule field-effect transistor with applications in genomic identification.
Vernick, Sefi; Trocchia, Scott M; Warren, Steven B; Young, Erik F; Bouilly, Delphine; Gonzalez, Ruben L; Nuckolls, Colin; Shepard, Kenneth L.
Afiliação
  • Vernick S; Department of Electrical Engineering, Columbia University, New York, New York 10027, USA.
  • Trocchia SM; Department of Electrical Engineering, Columbia University, New York, New York 10027, USA.
  • Warren SB; Department of Electrical Engineering, Columbia University, New York, New York 10027, USA.
  • Young EF; Department of Electrical Engineering, Columbia University, New York, New York 10027, USA.
  • Bouilly D; Department of Chemistry, Columbia University, New York, New York 10027, USA.
  • Gonzalez RL; Department of Chemistry, Columbia University, New York, New York 10027, USA.
  • Nuckolls C; Department of Chemistry, Columbia University, New York, New York 10027, USA.
  • Shepard KL; Department of Electrical Engineering, Columbia University, New York, New York 10027, USA.
Nat Commun ; 8: 15450, 2017 05 18.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28516911
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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Transistores Eletrônicos / Proteínas Virais / Técnicas Biossensoriais / Ebolavirus / Hibridização de Ácido Nucleico / Nucleoproteínas Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article
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