Fast and robust Block-Sparse Bayesian learning for EEG source imaging.

Ojeda, Alejandro; Kreutz-Delgado, Kenneth; Mullen, Tim

Ojeda, Alejandro; Kreutz-Delgado, Kenneth; Mullen, Tim.

Afiliação

Ojeda A; Intheon Labs, San Diego, CA, USA; Electrical & Computer Engineering Department, University of California San Diego, La Jolla, CA, USA. Electronic address: alojeda@eng.ucsd.edu.
Kreutz-Delgado K; Electrical & Computer Engineering Department, University of California San Diego, La Jolla, CA, USA.
Mullen T; Intheon Labs, San Diego, CA, USA. Electronic address: tim.mullen@intheon.io.

Neuroimage ; 174: 449-462, 2018 07 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-29596978

Assuntos

Encéfalo/fisiologia; Eletroencefalografia/métodos; Processamento de Imagem Assistida por Computador/métodos; Algoritmos; Artefatos; Teorema de Bayes; Simulação por Computador; Humanos; Modelos Teóricos; Processamento de Sinais Assistido por Computador; Razão Sinal-Ruído

Palavras-chave

Block-sparse bayesian learning; Brain machine/computer interface; EEG source imaging; Empirical bayes; Error-related negativity; Evidence framework; Marginal likelihood; Real time

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Processamento de Imagem Assistida por Computador / Encéfalo / Eletroencefalografia Tipo de estudo: Prognostic_studies Limite: Humans Idioma: En Ano de publicação: 2018 Tipo de documento: Article

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