In Situ Raman Spectrum Peak Test of Monocrystalline Silicon Wafer under Quantitative Uniaxial Pressure.

Xie, Chao; Du, Jian-guo; Liu, Lei; Yi, Li; Liu, Hong; Chen, Zhi; Li, Jing.

Guang Pu Xue Yu Guang Pu Fen Xi ; 36(4): 1261-5, 2016 Apr.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-30052359

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article

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