Electron-Excited X-ray Microanalysis by Energy Dispersive Spectrometry at 50: Analytical Accuracy, Precision, Trace Sensitivity, and Quantitative Compositional Mapping.

Newbury, Dale E; Ritchie, Nicholas W M

Newbury, Dale E; Ritchie, Nicholas W M.

Afiliação

Newbury DE; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA.
Ritchie NWM; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA.

Microsc Microanal ; 25(5): 1075-1105, 2019 10.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-31439058

Palavras-chave

compositional mapping; electron-excited X-ray microanalysis; energy dispersive X-ray spectrometry

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Qualitative_research Idioma: En Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article

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