Interface passivation to overcome shunting in semiconductor-catalyst junctions.

Shadabipour, Parisa; Hamann, Thomas W.

Afiliação

Shadabipour P; Department of Chemistry, Michigan State University, 578 South Shaw Lane, East Lansing, Michigan 48824-1322, USA. hamann@chemistry.msu.edu.

Chem Commun (Camb) ; 56(17): 2570-2573, 2020 Feb 28.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32010903

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article