An Approach to the Automated Characterization of Out-of-Plane and In-Plane Local Defect Resonances.
Materials (Basel)
; 16(8)2023 Apr 13.
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em En
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| ID: mdl-37109919
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1
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Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Ano de publicação:
2023
Tipo de documento:
Article