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TCAD Analysis of Leakage Current and Breakdown Voltage in Small Pitch 3D Pixel Sensors.
Ye, Jixing; Boughedda, Abderrezak; Sultan, D M S; Dalla Betta, Gian-Franco.
Afiliação
  • Ye J; Dipartimento di Ingegneria Industriale, Università degli Studi di Trento, 38123 Trento, Italy.
  • Boughedda A; Trento Institute for Fundamental Physics and Applications-Istituto Nazionale di Fisica Nucleare (TIFPA-INFN), 38123 Trento, Italy.
  • Sultan DMS; Dipartimento di Ingegneria Industriale, Università degli Studi di Trento, 38123 Trento, Italy.
  • Dalla Betta GF; Fondazione Bruno Kessler, 38123 Trento, Italy.
Sensors (Basel) ; 23(10)2023 May 13.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-37430645
Palavras-chave
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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article
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