Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis.
J Vis Exp
; (196)2023 06 30.
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em En
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| ID: mdl-37458447
Texto completo:
1
Base de dados:
MEDLINE
Assunto principal:
Staphylococcus aureus
/
Bactérias
Idioma:
En
Ano de publicação:
2023
Tipo de documento:
Article