A nano-radian precision absolute local slope measurement method for X-ray reflectors.

Wu, Hao; Ran, Zhuo-Rui; Chen, Xing; Li, Jia-Lu; Yang, Zheng; Zhang, Zhi-You; Wu, Peng; Du, Chun-Lei.

Opt Express ; 31(14): 23642-23650, 2023 Jul 03.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-37475444

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article

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