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Analysis of Thin Films and Buried Interfaces by Soft and Hard X-ray Photoemission.
Artyushkova, Kateryna; Mann, Jennifer; Zaccarine, Sarah.
Afiliação
  • Artyushkova K; Physical Electronics Inc, Chanhassen, MN, United States.
  • Mann J; Physical Electronics Inc, Chanhassen, MN, United States.
  • Zaccarine S; Physical Electronics Inc, Chanhassen, MN, United States.
Microsc Microanal ; 29(Supplement_1): 768, 2023 Jul 22.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-37613445

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article

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