High resolution atomic force microscopic imaging of the Si(111)-(7 x 7) surface: contribution of short-range force to the images.

Eguchi, Toyoaki; Hasegawa, Y.

Afiliação

Eguchi T; Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo, 5-1-5 Kashiwa-no-ha, Kashiwa, Chiba 277-8581, Japan.

Phys Rev Lett ; 89(26): 266105, 2002 Dec 23.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-12484838

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2002 Tipo de documento: Article

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