Application of schlieren interferometry to temperature measurements during laser welding of high-density polyethylene films.

Coelho, João M P; Abreu, Manuel A; Rodrigues, F Carvalho.

Afiliação

Coelho JM; Departamento de Optoelectrónica, Instituto Nacional de Engenharia e Tecnologia Industrial, Estrada do Paço do Lumiar 22, 1649-038 Lisbon, Portugal. jcoelho@dop.ineti.pt

Appl Opt ; 42(31): 6327-34, 2003 Nov 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-14649275

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2003 Tipo de documento: Article

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