Dependence of transverse and longitudinal resolutions on incident Gaussian beam widths in the illumination part of optical scanning microscopy.

Chon, Hyung-Su; Park, Gisung; Lee, Sang-Bum; Yoon, Seokchan; Kim, Jaisoon; Lee, Jai-Hyung; An, Kyungwon

Chon, Hyung-Su; Park, Gisung; Lee, Sang-Bum; Yoon, Seokchan; Kim, Jaisoon; Lee, Jai-Hyung; An, Kyungwon.

Afiliação

Chon HS; School of Physics, Seoul National University, Seoul, Korea.

J Opt Soc Am A Opt Image Sci Vis ; 24(1): 60-7, 2007 Jan.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17164843

Assuntos

Algoritmos; Aumento da Imagem/métodos; Interpretação de Imagem Assistida por Computador/métodos; Microscopia Confocal/métodos; Simulação por Computador; Luz; Iluminação/métodos; Modelos Estatísticos; Distribuição Normal; Reprodutibilidade dos Testes; Espalhamento de Radiação; Sensibilidade e Especificidade

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Algoritmos / Interpretação de Imagem Assistida por Computador / Aumento da Imagem / Microscopia Confocal Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article

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