Serial section scanning electron microscopy of adult brain tissue using focused ion beam milling.
J Neurosci
; 28(12): 2959-64, 2008 Mar 19.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-18353998
Texto completo:
1
Coleções:
01-internacional
Base de dados:
MEDLINE
Assunto principal:
Encéfalo
/
Microscopia Eletrônica de Varredura
/
Íons
Limite:
Animals
Idioma:
En
Ano de publicação:
2008
Tipo de documento:
Article