Programmable resistance switching in nanoscale two-terminal devices.

Jo, Sung Hyun; Kim, Kuk-Hwan; Lu, Wei

Jo, Sung Hyun; Kim, Kuk-Hwan; Lu, Wei.

Afiliação

Jo SH; Department of Electrical Engineering and Computer Science, the University of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48109, USA.

Nano Lett ; 9(1): 496-500, 2009 Jan.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19113891

Assuntos

Desenho Assistido por Computador; Microeletrodos; Nanotecnologia/instrumentação; Processamento de Sinais Assistido por Computador/instrumentação; Impedância Elétrica; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Reprodutibilidade dos Testes; Sensibilidade e Especificidade

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Processamento de Sinais Assistido por Computador / Desenho Assistido por Computador / Nanotecnologia / Microeletrodos Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Evaluation_studies Idioma: En Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article

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