A scanning Kelvin probe study of charge trapping in zone-cast pentacene thin film transistors. | Nanotechnology;20(2): 025203, 2009 Jan 14. | MEDLINE

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A scanning Kelvin probe study of charge trapping in zone-cast pentacene thin film transistors.

Hallam, T; Duffy, C M; Minakata, T; Ando, M; Sirringhaus, H.

Afiliação

Hallam T; Optoelectronics Group, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, Cambridge, UK. th325@cam.ac.uk

Nanotechnology ; 20(2): 025203, 2009 Jan 14.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19417265

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article

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