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Signal-to-noise and radiation exposure considerations in conventional and diffraction x-ray microscopy.
Huang, Xiaojing; Miao, Huijie; Steinbrener, Jan; Nelson, Johanna; Shapiro, David; Stewart, Andrew; Turner, Joshua; Jacobsen, Chris.
Afiliação
  • Huang X; 1Department of Physics and Astronomy, Stony Brook University, Stony Brook, NY 11794-3800, USA.
Opt Express ; 17(16): 13541-53, 2009 Aug 03.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19654762

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Doses de Radiação / Difração de Raios X / Interpretação de Imagem Assistida por Computador / Artefatos / Microscopia Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Doses de Radiação / Difração de Raios X / Interpretação de Imagem Assistida por Computador / Artefatos / Microscopia Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article