Signal-to-noise and radiation exposure considerations in conventional and diffraction x-ray microscopy.
Opt Express
; 17(16): 13541-53, 2009 Aug 03.
Article
em En
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| ID: mdl-19654762
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1
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01-internacional
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MEDLINE
Assunto principal:
Doses de Radiação
/
Difração de Raios X
/
Interpretação de Imagem Assistida por Computador
/
Artefatos
/
Microscopia
Tipo de estudo:
Diagnostic_studies
Idioma:
En
Ano de publicação:
2009
Tipo de documento:
Article