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Thermoelectric properties and efficiency measurements under large temperature differences.
Muto, A; Kraemer, D; Hao, Q; Ren, Z F; Chen, G.
Afiliação
  • Muto A; Department of Mechanical Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA.
Rev Sci Instrum ; 80(9): 093901, 2009 Sep.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19791947

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article