Atomic force microscopy-scanning electrochemical microscopy: influence of tip geometry and insulation defects on diffusion controlled currents at conical electrodes. | Anal Chem;83(8): 2971-7, 2011 Apr 15. | MEDLINE

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Atomic force microscopy-scanning electrochemical microscopy: influence of tip geometry and insulation defects on diffusion controlled currents at conical electrodes.

Leonhardt, Kelly; Avdic, Amra; Lugstein, Alois; Pobelov, Ilya; Wandlowski, Thomas; Wu, Ming; Gollas, Bernhard; Denuault, Guy.

Afiliação

Leonhardt K; School of Chemistry, Highfield Campus, University of Southampton, Southampton, SO17 1BJ, United Kingdom.

Anal Chem ; 83(8): 2971-7, 2011 Apr 15.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21443173

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article

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