Physical models of size-dependent nanofilament formation and rupture in NiO resistive switching memories. | Nanotechnology;22(25): 254022, 2011 Jun 24. | MEDLINE

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Physical models of size-dependent nanofilament formation and rupture in NiO resistive switching memories.

Ielmini, D; Nardi, F; Cagli, C.

Afiliação

Ielmini D; Dipartimento di Elettronica e Informazione-Politecnico di Milano and IUNET, Milano, Italy. ielmini@elet.polimi.it

Nanotechnology ; 22(25): 254022, 2011 Jun 24.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21572207

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article

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