Triple junction transport and the impact of grain boundary width in nanocrystalline Cu. | Nano Lett;12(7): 3448-54, 2012 Jul 11. | MEDLINE

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Triple junction transport and the impact of grain boundary width in nanocrystalline Cu.

Chellali, Mohammed Reda; Balogh, Zoltan; Bouchikhaoui, Houari; Schlesiger, Ralf; Stender, Patrick; Zheng, Lei; Schmitz, Guido.

Afiliação

Chellali MR; Institut für Materialphysik, Westfälische Wilhelms Universität Münster, Wilhelm Klemm Straße 10, D-48149, Münster, Germany. m_chel01@uni-muenster.de

Nano Lett ; 12(7): 3448-54, 2012 Jul 11.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22657752

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article

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