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Measuring nanolayer profiles of various materials by evanescent light technique.
Mirchin, Nina; Apter, Boris; Lapsker, Igor; Fogel, V; Gorodetsky, Uri; Popescu, Simona A; Peled, Aaron; Popescu-Pelin, Gianina; Dorcioman, Gabriela; Duta, Liviu; Popescu, Andrei; Mihailescu, Ion N.
Afiliação
  • Mirchin N; Photonics Laboratory, EE Department, Holon Institute of Technology, 52 Golomb Str.Holon, Israel- 58102.
J Nanosci Nanotechnol ; 12(3): 2668-71, 2012 Mar.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22755106
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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article
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