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Diagnostic yield of electroencephalography in the medical and surgical intensive care unit.
Kamel, Hooman; Betjemann, John P; Navi, Babak B; Hegde, Manu; Meisel, Karl; Douglas, Vanja C; Josephson, S Andrew.
Afiliação
  • Kamel H; Department of Neurology and Neuroscience, Weill Cornell Medical College, 525 East 68th St, F610, New York, NY, 10065, USA, hok9010@med.cornell.edu.
Neurocrit Care ; 19(3): 336-41, 2013 Dec.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22820998

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Convulsões / Eletroencefalografia / Unidades de Terapia Intensiva Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Observational_studies / Prognostic_studies / Risk_factors_studies Limite: Adult / Aged / Female / Humans / Male / Middle aged Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Convulsões / Eletroencefalografia / Unidades de Terapia Intensiva Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Observational_studies / Prognostic_studies / Risk_factors_studies Limite: Adult / Aged / Female / Humans / Male / Middle aged Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article