Optimization of low-background alpha spectrometers for analysis of thick samples.

Misiaszek, M; Pelczar, K; Wójcik, M; Zuzel, G; Laubenstein, M

Misiaszek, M; Pelczar, K; Wójcik, M; Zuzel, G; Laubenstein, M.

Afiliação

Misiaszek M; M. Smoluchowski Institute of Physics, Jagiellonian University, Reymonta 4, PL-30-059 Kraków, Poland.

Appl Radiat Isot ; 81: 146-50, 2013 Nov.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23628514

Assuntos

Algoritmos; Partículas alfa; Artefatos; Polônio/análise; Radiometria/métodos; Análise Espectral/métodos; Doses de Radiação; Reprodutibilidade dos Testes; Espalhamento de Radiação; Sensibilidade e Especificidade

Palavras-chave

Alpha spectroscopy; Low-background measurements; Surface screening; Thick samples

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Radiometria / Análise Espectral / Algoritmos / Polônio / Artefatos / Partículas alfa Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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