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Study on effects of scan parameters on the image quality and tip wear in AFM tapping mode.
Xue, Bo; Yan, Yongda; Hu, Zhenjiang; Zhao, Xuesen.
Afiliação
  • Xue B; Center for Precision Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, P. R. China.
  • Yan Y; Center for Precision Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, P. R. China.
  • Hu Z; Center for Precision Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, P. R. China.
  • Zhao X; Center for Precision Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, P. R. China.
Scanning ; 36(2): 263-9, 2014.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23740613
Palavras-chave
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article
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