Investigation of interface states in single-negative metamaterial layered structures based on the phase properties.

Zheng, Jian; Chen, Yihang; Chen, Zefeng; Wang, Xinggang; Han, Peng; Yong, Zehui; Wang, Yu; Leung, Chi Wah; Soukoulis, Costas M

Zheng, Jian; Chen, Yihang; Chen, Zefeng; Wang, Xinggang; Han, Peng; Yong, Zehui; Wang, Yu; Leung, Chi Wah; Soukoulis, Costas M.

Afiliação

Zheng J; Laboratory of Quantum Information Technology, School of Physics and Telecommunication Engineering, South China Normal University, Guangzhou 510006, China.

Opt Express ; 21(14): 16742-52, 2013 Jul 15.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23938526

Assuntos

Manufaturas; Modelos Teóricos; Refratometria/métodos; Simulação por Computador; Luz; Transição de Fase; Espalhamento de Radiação

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Refratometria / Manufaturas / Modelos Teóricos Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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