Structural investigation of GaInP nanowires using X-ray diffraction. | Thin Solid Films;543(100): 100-105, 2013 Sep 30. | MEDLINE

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Structural investigation of GaInP nanowires using X-ray diffraction.

Kriegner, D; Persson, J M; Etzelstorfer, T; Jacobsson, D; Wallentin, J; Wagner, J B; Deppert, K; Borgström, M T; Stangl, J.

Afiliação

Kriegner D; Institute of Semiconductor and Solid State Physics, Johannes Kepler University Linz, Altenbergerstr. 69, A-4040 Linz, Austria.

Thin Solid Films ; 543(100): 100-105, 2013 Sep 30.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24089580

Palavras-chave

IIIV semiconductors; Nanowires; X-ray diffraction

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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