Ultra-high aspect ratio replaceable AFM tips using deformation-suppressed focused ion beam milling.

Savenko, Alexey; Yildiz, Izzet; Petersen, Dirch Hjorth; Bøggild, Peter; Bartenwerfer, Malte; Krohs, Florian; Oliva, Maria; Harzendorf, Torsten

Savenko, Alexey; Yildiz, Izzet; Petersen, Dirch Hjorth; Bøggild, Peter; Bartenwerfer, Malte; Krohs, Florian; Oliva, Maria; Harzendorf, Torsten.

Afiliação

Savenko A; DTU Nanotech-Department of Micro- and Nanotechnology, Technical University of Denmark, Ørsteds Plads 345Ø, DK-2800 Kongens Lyngby, Denmark. DTU CEN-Center for Electron Nanoscopy, Technical University of Denmark, Fysikvej 307, DK-2800 Kongens Lyngby, Denmark.

Nanotechnology ; 24(46): 465701, 2013 Nov 22.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24149369

Assuntos

Microscopia de Força Atômica/instrumentação; Nanotecnologia/instrumentação; Desenho de Equipamento

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Microscopia de Força Atômica / Nanotecnologia Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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