Experimentally excellent beaming in a two-layer dielectric structure.
Opt Express
; 22(19): 23147-52, 2014 Sep 22.
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em En
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| ID: mdl-25321784
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1
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01-internacional
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MEDLINE
Assunto principal:
Simulação por Computador
/
Condutividade Elétrica
/
Sistemas Microeletromecânicos
/
Modelos Teóricos
Idioma:
En
Ano de publicação:
2014
Tipo de documento:
Article