Improving atomic force microscopy imaging by a direct inverse asymmetric PI hysteresis model.
Sensors (Basel)
; 15(2): 3409-25, 2015 Feb 03.
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em En
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| ID: mdl-25654719
Texto completo:
1
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01-internacional
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MEDLINE
Assunto principal:
Diagnóstico por Imagem
/
Microscopia de Força Atômica
/
Modelos Teóricos
Tipo de estudo:
Diagnostic_studies
/
Prognostic_studies
Limite:
Humans
Idioma:
En
Ano de publicação:
2015
Tipo de documento:
Article