The Chemical Capacitance as a Fingerprint of Defect Chemistry in Mixed Conducting Oxides.
Acta Chim Slov
; 63(3): 509-18, 2016.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-27640378
Buscar no Google
Coleções:
01-internacional
Base de dados:
MEDLINE
Idioma:
En
Ano de publicação:
2016
Tipo de documento:
Article