Quantification of in-contact probe-sample electrostatic forces with dynamic atomic force microscopy. | Nanotechnology;28(6): 065704, 2017 Jan 04. | MEDLINE

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Quantification of in-contact probe-sample electrostatic forces with dynamic atomic force microscopy.

Balke, Nina; Jesse, Stephen; Carmichael, Ben; Okatan, M Baris; Kravchenko, Ivan I; Kalinin, Sergei V; Tselev, Alexander.

Afiliação

Balke N; Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN 37831 USA.

Nanotechnology ; 28(6): 065704, 2017 Jan 04.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28050969

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article

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