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The qualitative f-ratio method applied to electron channelling-induced x-ray imaging with an annular silicon drift detector in a scanning electron microscope in the transmission mode.
Brodusch, Nicolas; Gauvin, Raynald.
Afiliação
  • Brodusch N; Department of Mining and Materials Engineering, McGill University, Montréal, Québec, Canada.
  • Gauvin R; Department of Mining and Materials Engineering, McGill University, Montréal, Québec, Canada.
J Microsc ; 267(3): 288-298, 2017 09.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28421602

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Qualitative_research Idioma: En Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Qualitative_research Idioma: En Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article