Full-field microsurface profilometry using image correlation without vertical scanning. | Opt Lett;44(14): 3534-3537, 2019 Jul 15. | MEDLINE

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Full-field microsurface profilometry using image correlation without vertical scanning.

Wu, Guo-Wei; Nguyen, Duc Trung; Chen, Liang-Chia.

Opt Lett ; 44(14): 3534-3537, 2019 Jul 15.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-31305566

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article

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