Sparse Scanning Electron Microscopy Data Acquisition and Deep Neural Networks for Automated Segmentation in Connectomics.

Potocek, Pavel; Trampert, Patrick; Peemen, Maurice; Schoenmakers, Remco; Dahmen, Tim

Potocek, Pavel; Trampert, Patrick; Peemen, Maurice; Schoenmakers, Remco; Dahmen, Tim.

Afiliação

Potocek P; Materials and Structural Analysis Thermo Fisher Scientific, Eindhoven, The Netherlands.
Trampert P; German Research Center for Artificial Intelligence, DFKI, Saarbrücken, Germany.
Peemen M; Saarland University, Saarbrücken, Germany.
Schoenmakers R; Materials and Structural Analysis Thermo Fisher Scientific, Eindhoven, The Netherlands.
Dahmen T; Materials and Structural Analysis Thermo Fisher Scientific, Eindhoven, The Netherlands.

Microsc Microanal ; 26(3): 403-412, 2020 06.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32252851

Assuntos

Conectoma/métodos; Microscopia Eletrônica de Varredura/métodos; Redes Neurais de Computação; Aprendizado Profundo; Processamento de Imagem Assistida por Computador/métodos; Imageamento Tridimensional; Neurônios

Palavras-chave

connectomics; deep learning; scanning electron microscopy; segmentation; sparse scanning

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Microscopia Eletrônica de Varredura / Redes Neurais de Computação / Conectoma Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google