Your browser doesn't support javascript.
loading
Semi-Automated Extraction of the Distribution of Single Defects for nMOS Transistors.
Stampfer, Bernhard; Schanovsky, Franz; Grasser, Tibor; Waltl, Michael.
Afiliação
  • Stampfer B; Institute for Microelectronics, Technische Universität Wien, Gusshausstraße 27-29/E360, 1040 Wien, Austria.
  • Schanovsky F; Global TCAD Solutions, Bösendorferstraße 1/12, 1010 Wien, Austria.
  • Grasser T; Institute for Microelectronics, Technische Universität Wien, Gusshausstraße 27-29/E360, 1040 Wien, Austria.
  • Waltl M; Institute for Microelectronics, Technische Universität Wien, Gusshausstraße 27-29/E360, 1040 Wien, Austria.
Micromachines (Basel) ; 11(4)2020 Apr 23.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32340395
Palavras-chave
Texto completo
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article
Texto completo
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article