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Quantitative Trait Loci Mapping for Spot Blotch Resistance in Two Biparental Mapping Populations of Bread Wheat.
He, Xinyao; Dreisigacker, Susanne; Sansaloni, Carolina; Duveiller, Etienne; Singh, Ravi P; Singh, Pawan K.
Afiliação
  • He X; International Maize and Wheat Improvement Center (CIMMYT), Apdo. Postal 6-641, 06600 Mexico DF, Mexico.
  • Dreisigacker S; International Maize and Wheat Improvement Center (CIMMYT), Apdo. Postal 6-641, 06600 Mexico DF, Mexico.
  • Sansaloni C; International Maize and Wheat Improvement Center (CIMMYT), Apdo. Postal 6-641, 06600 Mexico DF, Mexico.
  • Duveiller E; International Maize and Wheat Improvement Center (CIMMYT), Apdo. Postal 6-641, 06600 Mexico DF, Mexico.
  • Singh RP; International Maize and Wheat Improvement Center (CIMMYT), Apdo. Postal 6-641, 06600 Mexico DF, Mexico.
  • Singh PK; International Maize and Wheat Improvement Center (CIMMYT), Apdo. Postal 6-641, 06600 Mexico DF, Mexico.
Phytopathology ; 110(12): 1980-1987, 2020 Dec.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32635797
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Ascomicetos / Triticum Limite: Humans País/Região como assunto: America do sul / Asia Idioma: En Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article
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