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Beam damage of single semiconductor nanowires during X-ray nanobeam diffraction experiments.
Al Hassan, Ali; Lähnemann, Jonas; Davtyan, Arman; Al-Humaidi, Mahmoud; Herranz, Jesús; Bahrami, Danial; Anjum, Taseer; Bertram, Florian; Dey, Arka Bikash; Geelhaar, Lutz; Pietsch, Ullrich.
Afiliação
  • Al Hassan A; Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät der Universität Siegen, Siegen 57068, Germany.
  • Lähnemann J; Paul Drude Institut für Festkorperelektronik, Leibniz Institut im Forschungsverbund Berlin e.V., Hausvogteiplatz 5-7, Berlin 10117, Germany.
  • Davtyan A; Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät der Universität Siegen, Siegen 57068, Germany.
  • Al-Humaidi M; Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät der Universität Siegen, Siegen 57068, Germany.
  • Herranz J; Paul Drude Institut für Festkorperelektronik, Leibniz Institut im Forschungsverbund Berlin e.V., Hausvogteiplatz 5-7, Berlin 10117, Germany.
  • Bahrami D; Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät der Universität Siegen, Siegen 57068, Germany.
  • Anjum T; Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät der Universität Siegen, Siegen 57068, Germany.
  • Bertram F; DESY Photon Science, Notkestrasse 85, Hamburg 22607, Germany.
  • Dey AB; DESY Photon Science, Notkestrasse 85, Hamburg 22607, Germany.
  • Geelhaar L; Paul Drude Institut für Festkorperelektronik, Leibniz Institut im Forschungsverbund Berlin e.V., Hausvogteiplatz 5-7, Berlin 10117, Germany.
  • Pietsch U; Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät der Universität Siegen, Siegen 57068, Germany.
J Synchrotron Radiat ; 27(Pt 5): 1200-1208, 2020 Sep 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32876594
Palavras-chave
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article
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